- RS Best.-Nr.:
- 171-3329
- Herst. Teile-Nr.:
- 74VHC21FT
- Marke:
- Toshiba
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- 74VHC21FT
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- Toshiba
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Rechtliche Anforderungen
Produktdetails
Der 74VHC21FT ist ein fortschrittliches Hochgeschwindigkeits-CMOS-AND-GATTER MIT 4 EINGÄNGEN mit Silizium-Gate-C2MOS-Technologie. Es erreicht hohe Geschwindigkeit, ähnlich dem entsprechenden bipolaren Schottky TTL, bei gleichzeitiger Beibehaltung der geringen CMOS-Verlustleistung. Die interne Schaltung besteht aus 4 Stufen einschließlich einem Pufferausgang, die eine hohe Rauschfestigkeit und einen stabilen Ausgang bieten. Eine Eingangsschutzschaltung sorgt dafür, dass 0 bis 5,5 V an die Eingangsstifte angelegt werden können, unabhängig von der Versorgungsspannung. Diese Einheit kann als Schnittstelle für 5-V- bis 3-V-Systeme und zwei Versorgungssysteme wie z. B. Akkupufferung verwendet werden. Dieser Stromkreis verhindert Geräteschaden infolge nicht aufeinander abgestimmter Versorgungs- und Eingangsspannungen.
Großer Betriebstemperaturbereich: Obergr. = –40 bis 125 Hohe Geschwindigkeit: TPD = 3,3 ns (typ.) bei Vcc = 5.0 VGeringe Verlustleistung: ICC = 2,0 μA (max.) bei Ta = 25 Hohe Störfestigkeit: VNIH = VNIL = 28 % Vcc (min.)Abschaltschutz an allen Eingängen.Ausgeglichene Laufzeitverzögerungen: tPLH ≈ tPHLGroßer Betriebsspannungsbereich: Vcc (Betr.) = 2,0 V bis 5,5 VStift und Funktion kompatibel mit der Serie 74 (AC/HC/AHC/LV usw.) Typ 21
Technische Daten
Eigenschaft | Wert |
---|---|
Logikfunktion | AND |
Montage-Typ | SMD |
Anzahl der Elemente | 2 |
Eingänge pro Gatter | 4 |
Gehäusegröße | TSSOP |
Pinanzahl | 14 |
Logikfamilie | 74VHC |
Eingangs-Typ | CMOS, TTL |
Arbeitsspannnung max. | 5,5 V |
Ausgangsstrom H-Pegel max. | -8mA |
Signalverzögerungszeit @ max. CL | 13.5 ns @ 50 pF |
Arbeitsspannnung min. | 2 V |
Ausgangsstrom L-Pegel max. | 8mA |
Ausgangs-Typ | Puffer, CMOS |
Automobilstandard | AEC-Q100 |
Länge | 5mm |
Höhe | 1mm |
Breite | 4.4mm |
Betriebstemperatur min. | –40 °C |
Abmessungen | 5 x 4.4 x 1mm |
Betriebstemperatur max. | +125 °C |
Signalverzögerungszeit @ Testbedingung | 50pF |