Microchip SAM C21 Xplained Pro MCU Microcontroller Development Kit ARM ATSAMC21J18A
- RS Best.-Nr.:
- 177-9605
- Herst. Teile-Nr.:
- ATSAMC21-XPRO
- Marke:
- Microchip
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- Microchip
Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | Microchip | |
| Klassifizierung | Evaluation Kit | |
| Kit-Name | SAM C21 Xplained Pro | |
| Technologie | MCU | |
| Gerätekern | ARM | |
| Teilenummer des Prozessors | ATSAMC21J18A | |
| Prozessortyp | MCU | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke Microchip | ||
Klassifizierung Evaluation Kit | ||
Kit-Name SAM C21 Xplained Pro | ||
Technologie MCU | ||
Gerätekern ARM | ||
Teilenummer des Prozessors ATSAMC21J18A | ||
Prozessortyp MCU | ||
- Ursprungsland:
- MY
Microchip Technology MCU-Evaluierungsplatine
Die Microchip Technology MCU-Evaluierungsplatine ist eine Hardwareplattform zur Evaluierung des ATSAMC21J18A-Mikrocontrollers. Dieses Kit wird von der integrierten Studio-Entwicklungsplattform unterstützt und bietet einfachen Zugriff auf die Funktionen der MCU und erklärt, wie das Gerät in ein benutzerdefiniertes Design integriert werden kann. Die MCU-Evaluierungsplatine enthält einen integrierten integrierten Debugger, sodass keine externen Tools zum Programmieren oder Debuggen der MCU erforderlich sind. Diese Platine bietet zusätzliche Peripheriegeräte, um die Funktionen zu erweitern und die Entwicklung des kundenspezifischen Designs zu erleichtern.
Eigenschaften und Vorteile:
• CAN-Transceiver
• DAC-Ausgangssteckverbinder
• Daten-Gateway-Schnittstelle: SPI, I2C und vier GPIOs
• Integrierter Debugger
• Pegelwandler zwischen einem Zielabschnitt und einem EDBG-Abschnitt
• Mehrere LEDs zur Statusanzeige
• Zwei wählbare Zielspannungen: 3,3 V und 5,0 V
• DAC-Ausgangssteckverbinder
• Daten-Gateway-Schnittstelle: SPI, I2C und vier GPIOs
• Integrierter Debugger
• Pegelwandler zwischen einem Zielabschnitt und einem EDBG-Abschnitt
• Mehrere LEDs zur Statusanzeige
• Zwei wählbare Zielspannungen: 3,3 V und 5,0 V
Anwendungen:
• Elektroniklabore
• Eingebettete Systeme
• IoT-Systeme
• Eingebettete Systeme
• IoT-Systeme
Zulassungen:
• ANSI/ESD S20.20:2014
• BS EN 61340-5-1:2007
• BS EN 61340-5-1:2007
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