Microchip 25LC640T-I/SN 64 kB EEPROM, I2C, Seriell (2-Draht) Interface, SOT-23, 500 ns Oberfläche 8-Pin
- RS Best.-Nr.:
- 333-279
- Herst. Teile-Nr.:
- 25LC640T-I/SN
- Marke:
- Microchip
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- 333-279
- Herst. Teile-Nr.:
- 25LC640T-I/SN
- Marke:
- Microchip
Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | Microchip | |
| Produkt Typ | EEPROM | |
| Speicher Größe | 64kB | |
| Schnittstellentyp | I2C, Seriell (2-Draht) | |
| Gehäusegröße | SOT-23 | |
| Montageart | Oberfläche | |
| Pinanzahl | 8 | |
| Taktfrequenz max. | 1MHz | |
| Minimale Versorgungsspannung | 1.7V | |
| Maximale Versorgungsspannung | 5.5V | |
| Betriebstemperatur min. | -40°C | |
| Maximale Betriebstemperatur | 125°C | |
| Serie | 25LC640T | |
| Normen/Zulassungen | RoHS | |
| Automobilstandard | AEC-Q100 | |
| Datenspeicherung | 200year | |
| Versorgungsstrom | 25μA | |
| Zugriffszeit max. | 500ns | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke Microchip | ||
Produkt Typ EEPROM | ||
Speicher Größe 64kB | ||
Schnittstellentyp I2C, Seriell (2-Draht) | ||
Gehäusegröße SOT-23 | ||
Montageart Oberfläche | ||
Pinanzahl 8 | ||
Taktfrequenz max. 1MHz | ||
Minimale Versorgungsspannung 1.7V | ||
Maximale Versorgungsspannung 5.5V | ||
Betriebstemperatur min. -40°C | ||
Maximale Betriebstemperatur 125°C | ||
Serie 25LC640T | ||
Normen/Zulassungen RoHS | ||
Automobilstandard AEC-Q100 | ||
Datenspeicherung 200year | ||
Versorgungsstrom 25μA | ||
Zugriffszeit max. 500ns | ||
Der Microchip 64 Kbit Serial Electrically Erasable PROM-Speicher wird über einen einfachen Serial Peripheral Interface (SPI) kompatiblen seriellen Bus angesprochen. Die erforderlichen Bussignale sind ein Takteingang sowie separate Dateneingangs- und Datenausgangsleitungen. Der Zugriff auf das Gerät wird über einen Chip Select-Eingang gesteuert.
Schreibzykluszeit von maximal 5 ms
Selbst getaktete Lösch- und Schreibzyklen
Block-Schreibschutz
Ein- und Ausschalten von Datenschutzschaltungen
Schreibfreigabe-Latch
Schreibschutz-Pin
Sequentielles Lesen
Hohe Zuverlässigkeit