Infineon CoolMOS Typ N-Kanal, Durchsteckmontage MOSFET & Diode Erweiterung 650 V / 99.6 A 277.8 W, 3-Pin TO-247

Abbildung stellvertretend für Produktreihe

Mengenrabatt verfügbar

Zwischensumme (1 Packung mit 2 Stück)*

CHF.12.348

Add to Basket
Menge auswählen oder eingeben
Auf Lager
  • Zusätzlich 148 Einheit(en) mit Versand ab 20. Januar 2026
Sie benötigen mehr? Benötigte Menge eingeben und auf „Lieferverfügbarkeit überprüfen“ klicken.
Stück
Pro Stück
Pro Packung*
2 - 8CHF.6.174CHF.12.34
10 - 18CHF.5.565CHF.11.12
20 - 48CHF.5.187CHF.10.37
50 - 98CHF.4.872CHF.9.74
100 +CHF.4.505CHF.9.01

*Richtpreis

Verpackungsoptionen:
RS Best.-Nr.:
220-7462
Herst. Teile-Nr.:
IPW65R110CFDAFKSA1
Marke:
Infineon
Finden Sie ähnliche Produkte, indem Sie ein oder mehrere Eigenschaften auswählen.
Alle auswählen

Marke

Infineon

Kabelkanaltyp

Typ N

Produkt Typ

MOSFET & Diode

kontinuierlicher Drainstrom max. Id

99.6A

Drain-Source-Spannung Vds max.

650V

Gehäusegröße

TO-247

Serie

CoolMOS

Montageart

Durchsteckmontage

Pinanzahl

3

Drain-Source-Widerstand Rds max.

110mΩ

Channel-Modus

Erweiterung

Gate-Ladung typisch Qg @ Vgs

118nC

Betriebstemperatur min.

-40°C

Gate-Source-spannung max Vgs

20 V

Maximale Verlustleistung Pd

277.8W

Durchlassspannung Vf

0.9V

Maximale Betriebstemperatur

150°C

Länge

16.13mm

Höhe

21.1mm

Breite

5.21 mm

Normen/Zulassungen

No

Automobilstandard

Nein

Der 650V Cool MOS CFDA Super Junction (SJ) MOSFET von Infineon ist die zweite Generation von marktführenden, für den Einsatz in der Automobilindustrie qualifizierten Cool MOS-Leistungs-MOSFETs. Neben den bekannten Eigenschaften von hoher Qualität und Zuverlässigkeit, die die Automobilindustrie benötigt, bietet die 650V Cool MOS CFDA-Serie auch eine integrierte schnelle Gehäusediode.

Erste für den Einsatz in der Automobilindustrie geeignete 650-V-Technologie mit integrierter schneller Gehäusediode Auf dem Markt

Begrenztes Überschwingen der Spannung bei harter Kommutierung - Selbstbegrenzung di/dt Und dv/dt

Niedriger Gate-Ladewert Q g.

Niedrige Q rr bei wiederholter Kommutierung auf Gehäusediode und Niedriger Q-Wurf

Reduzierte Ein- und Einschaltzeiten

Erhöhte Sicherheitsmarge durch höhere Durchschlagsspannung

Verringertes EMI-Erscheinungsbild und einfache Bauweise

Bessere Effizienz bei geringer Last

Geringere Schaltverluste

Höhere Schaltfrequenz und/oder höherer Arbeitszyklus möglich

Hohe Qualität und Zuverlässigkeit

Verwandte Links