DiodesZetex DMT Typ N-Kanal, Oberfläche MOSFET Erweiterung 60 V / 31.8 A 28.4 W, 8-Pin PowerDI3333
- RS Best.-Nr.:
- 222-2876
- Herst. Teile-Nr.:
- DMT6015LFVW-7
- Marke:
- DiodesZetex
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- DMT6015LFVW-7
- Marke:
- DiodesZetex
Technische Daten
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Produktdetails
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Alle auswählen | Eigenschaft | Wert |
|---|---|---|
| Marke | DiodesZetex | |
| Produkt Typ | MOSFET | |
| Kabelkanaltyp | Typ N | |
| kontinuierlicher Drainstrom max. Id | 31.8A | |
| Drain-Source-Spannung Vds max. | 60V | |
| Gehäusegröße | PowerDI3333 | |
| Serie | DMT | |
| Montageart | Oberfläche | |
| Pinanzahl | 8 | |
| Drain-Source-Widerstand Rds max. | 16mΩ | |
| Channel-Modus | Erweiterung | |
| Gate-Ladung typisch Qg @ Vgs | 15.7nC | |
| Betriebstemperatur min. | -55°C | |
| Maximale Verlustleistung Pd | 28.4W | |
| Gate-Source-spannung max Vgs | 10 V | |
| Durchlassspannung Vf | 1.2V | |
| Maximale Betriebstemperatur | 150°C | |
| Höhe | 3.3mm | |
| Normen/Zulassungen | No | |
| Breite | 0.8 mm | |
| Länge | 3.05mm | |
| Automobilstandard | Nein | |
| Alle auswählen | ||
|---|---|---|
Marke DiodesZetex | ||
Produkt Typ MOSFET | ||
Kabelkanaltyp Typ N | ||
kontinuierlicher Drainstrom max. Id 31.8A | ||
Drain-Source-Spannung Vds max. 60V | ||
Gehäusegröße PowerDI3333 | ||
Serie DMT | ||
Montageart Oberfläche | ||
Pinanzahl 8 | ||
Drain-Source-Widerstand Rds max. 16mΩ | ||
Channel-Modus Erweiterung | ||
Gate-Ladung typisch Qg @ Vgs 15.7nC | ||
Betriebstemperatur min. -55°C | ||
Maximale Verlustleistung Pd 28.4W | ||
Gate-Source-spannung max Vgs 10 V | ||
Durchlassspannung Vf 1.2V | ||
Maximale Betriebstemperatur 150°C | ||
Höhe 3.3mm | ||
Normen/Zulassungen No | ||
Breite 0.8 mm | ||
Länge 3.05mm | ||
Automobilstandard Nein | ||
Der DiodesZetex N-Kanal-Anreicherungs-MOSFET wurde entwickelt, um den Betriebswiderstand (RDS(ON)) zu minimieren und gleichzeitig eine überlegene Schaltleistung beizubehalten, wodurch er sich ideal für hocheffiziente Stromüberwachungsanwendungen eignet.
Geringer Widerstand im eingeschalteten Zustand
Thermisch effizientes Gehäuse mit kleinem Formfaktor ermöglicht Endprodukte mit höherer Dichte
Benetzbare Flanke für verbesserte optische Inspektion
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